12 - Ausbeute und Zuverlässigkeit/ClipID:19842 vorhergehender Clip

Schlüsselworte: bauelemente elektronische zuverlässigkeit ausfallmechanismen elektromigration temperatur wahrscheinlichkeit linienausbeute chips lebensdauer einflussfaktoren prozesskontrolle lognormalverteilung zeitpunkt ausfallrate ausbeutemodelle defektdichte
Aufnahme Datum 2020-07-17

Kurs-Verknüpfung

Prozessintegration und Bauelementearchitekturen

Lehrende(r)

PD Dr. Tobias Erlbacher

Zugang

IdM-Anmeldung / Passwort

Sprache

Deutsch

Einrichtung

Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente

Produzent

Lehrstuhl für Elektronische Bauelemente

Format

Vorlesung

Typ

universitäre Vorlesung

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