2 - Asi-Ch-lecture1/ClipID:31466 vorhergehender Clip nächster Clip

Schlüsselworte: capacitive mesurements microwave measurements radio frequency measurements
Aufnahme Datum 2021-04-21

Kurs-Verknüpfung

Advanced Semiconductors Introduction: Characterization

Lehrende(r)

Prof. Dr. Wolfgang Heiß

Zugang

IdM-Anmeldung

Sprache

Englisch

Einrichtung

Professur für Werkstoffwissenschaften (lösungsprozessierte Halbleitermaterialien)

Produzent

Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Format

Vorlesung

Typ

universitäre Vorlesung

contact less resistivity experiments

Nächstes Video

3 - Asi-Ch-lecture3
Schloss1
Prof. Dr. Wolfgang Heiß
2021-04-28
IdM-Anmeldung
4 - Asi-Ch-lecture4
Schloss1
Prof. Dr. Wolfgang Heiß
2021-05-12
IdM-Anmeldung
5 - Asi-Ch-lecture5
Schloss1
Prof. Dr. Wolfgang Heiß
2021-05-12
IdM-Anmeldung
6 - Asi-Ch-lecture5
Schloss1
Prof. Dr. Wolfgang Heiß
2021-05-19
IdM-Anmeldung
7 - Asi-Ch-lecture7
Schloss1
Prof. Dr. Wolfgang Heiß
2021-05-26
IdM-Anmeldung

Mehr Videos aus der Kategorie "Technische Fakultät"

10 - Informatische Werkzeuge in den Geistes- und Sozialwissenschaften I
2024-12-20
Frei
freie Daten  
20 - Artificial Intelligence I
2024-12-19
Frei
freie Daten  
52 - Beyond the Patterns - Prof. Dr. Xiaochun Lai (Shanghai Tech University) – A Physics-ASIC Architecture-Driven Deep Learning Detector Model Under Limited Data — for X-ray Photon-Counting CT
2024-12-19
Frei
freie Daten  
20 - Algorithmen und Datenstrukturen (für Medizintechnik)
2024-12-19
Studon
geschützte Daten  
20 - Grundlagen der Elektrotechnik I
2024-12-18
IdM-Anmeldung
geschützte Daten  
19 - Data Science Survival Skills
2024-12-19
Studon
geschützte Daten