5 - Asi-Ch-lecture5/ClipID:32766 vorhergehender Clip nächster Clip

Schlüsselworte: Defects recombination generation trap states
Aufnahme Datum 2021-05-12

Kurs-Verknüpfung

Advanced Semiconductors Introduction: Characterization

Lehrende(r)

Prof. Dr. Wolfgang Heiß

Zugang

IdM-Anmeldung

Sprache

Englisch

Einrichtung

Professur für Werkstoffwissenschaften (lösungsprozessierte Halbleitermaterialien)

Produzent

Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Format

Vorlesung

Typ

universitäre Vorlesung

Nächstes Video

6 - Asi-Ch-lecture5
Schloss1
Prof. Dr. Wolfgang Heiß
2021-05-19
IdM-Anmeldung
7 - Asi-Ch-lecture7
Schloss1
Prof. Dr. Wolfgang Heiß
2021-05-26
IdM-Anmeldung
8 - Asi-Ch-lecture8
Schloss1
Prof. Dr. Wolfgang Heiß
2021-06-02
IdM-Anmeldung
9 - Asi-Ch-lecture8
Schloss1
Prof. Dr. Wolfgang Heiß
2021-06-09
IdM-Anmeldung
10 - Asi-Ch-lecture8
Schloss1
Prof. Dr. Wolfgang Heiß
2021-06-16
IdM-Anmeldung

Mehr Videos aus der Kategorie "Technische Fakultät"

10 - Werkstoffkunde und Technologie der Metalle
2025-01-17
Passwort
geschützte Daten  
9 - Cyber-physical Systems (Übung), Wintersemester 2024/25
2025-01-17
Studon
geschützte Daten  
7 - Robotics 2 - Exercise 9
2025-01-16
Studon
geschützte Daten  
11 - Grundlagen der Informatik
2025-01-20
Studon
geschützte Daten  
11 - Robot mechanisms and user interfaces
2025-01-20
IdM-Anmeldung
geschützte Daten  
12 - Informatische Werkzeuge in den Geistes- und Sozialwissenschaften I
2025-01-17
Frei
freie Daten