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Schlüsselworte: Defects capacitive mesurements DLTS transient capacitance trap density emission coefficient
Aufnahme Datum 2021-05-19

Kurs-Verknüpfung

Advanced Semiconductors Introduction: Characterization

Lehrende(r)

Prof. Dr. Wolfgang Heiß

Zugang

IdM-Anmeldung

Sprache

Englisch

Einrichtung

Professur für Werkstoffwissenschaften (lösungsprozessierte Halbleitermaterialien)

Produzent

Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Format

Vorlesung

Typ

universitäre Vorlesung

Defects

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