12 - REM_07_Focused_Ion_Beam_I_Instrumentation_WS20_21_Part 1of2/ClipID:46463 vorhergehender Clip nächster Clip

Schlüsselworte: Scanning Electron Microscopy
Aufnahme Datum 2023-01-18

Kurs-Verknüpfung

Introduction to Scanning Electron Microscopy WS20/21

Lehrende(r)

Dr.-Ing. Thomas Przybilla

Zugang

IdM-Anmeldung

Sprache

Englisch

Einrichtung

Lehrstuhl für Werkstoffwissenschaften (Mikro- und Nanostrukturforschung)

Produzent

Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg

Format

Vorlesung

Typ

universitäre Vorlesung

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