Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025 [SerienID : 4243]
- 4-stündige Vorlesung des „Master of Science“-Studienganges „Elektrotechnik und Informationstechnik“ im Sommersemester (ungerade Jahre)
- Kenntnis und Grundverständnis der grundlegenden Funktionsweise und des prinzipiellen Aufbaus einer Halbleiterchipfabrik und der dafür erforderlichen Schlüsselbegriffe:
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- „Technologisches Vermögen“ & „Produktivität“,
- „Logistik & Markt“ und
- „Statistische Prozesskontrolle“.
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- Besonderes Augenmerk wird dabei auf die:
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- Qualität & Zuverlässigkeit,
- Ausbeute & Ausfall-/ Fehlermechanismen
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- mikro- und nanoelektronischer Halbleiterchips/ -bauelemente gelegt
Fehleranalyse
zuverlässigkeit
Halbleitertechnologie
Semester
Sommersemester 2025
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aktualisiert
2025-04-24 13:43:39
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# 1Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-04-24 Sommersemester 20251Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-04-24 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 2Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-04-28 Sommersemester 20252Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-04-28 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 3Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-05 Sommersemester 20253Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-05 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 4Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-08 Sommersemester 20254Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-08 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 5Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-12 Sommersemester 20255Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-12 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 6Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-15 Sommersemester 20256Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-15 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 7Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-27 Sommersemester 20257Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-27 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 8Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-26 Sommersemester 20258Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-05-26 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 9Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-06-12 Sommersemester 20259Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-06-12 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 10Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-06-17 Sommersemester 202510Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-06-17 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 11Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-06-23 Sommersemester 202511Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-06-23 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 12Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-06-24 Sommersemester 202512Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-06-24 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 13Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-06-30 Sommersemester 202513Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-06-30 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 14Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-04 Sommersemester 202514Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-04 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 15Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-07 Sommersemester 202515Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-07 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 16Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-08 Sommersemester 202516Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-08 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 17Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-14 Sommersemester 202517Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-14 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 18Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-21 Sommersemester 202518Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-21 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
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# 19Passwortgeschützt, StudOn-ZugangHalbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-24 Sommersemester 202519Halbleitertechnologie III - Zuverlässigkeit und Fehleranalyse integrierter Schaltungen SS2025Prof. Dr.-Ing. Jörg Schulze2025-07-24 Sommersemester 2025Passwortgeschützt, StudOn-ZugangGesperrt clip
